半導體的晶圓製造是一個接近百分之百的自動化的環境，所以在生產的過程中，大量的數據會自動的被累積下來，這些資料自然而然就可以變成分析的資產。半導體良率隨著科技的進步，從早期的統計、製成、品管到大數據分析，進一步透過先進製成控制、先進設備控制與先進品質控制，在現場現地透過資料參數，找出製成問題，並立即進行調整，在現場就能立即進行解決 ，也能提升整體的良率。